本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體分立器件在高溫環(huán)境下進行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(HTOL)
?產(chǎn)品概述:本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體分立器件在高溫環(huán)境下進行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(HTOL)
引用標準:GJB128、MIL-STD-750...
適用器件:Diode、BJT、Si-MOSFET、SiC-MOSFET、GaN-HEMT、電阻器、整流橋、晶閘管等分立器件
適用行業(yè):軍工電子、消費電子、半導(dǎo)體設(shè)計、封測企業(yè)...