本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體分立器件進行高加速應(yīng)力試驗(HAST/B-HAST/HTIR)
產(chǎn)品概述:本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體分立器件進行高加速應(yīng)力試驗(HAST/B-HAST/HTIR)。
引用標(biāo)準(zhǔn):GJB128、MIL-STD-750、IEC、JEDEC、AEC-Q101、AQG324...
適用器件:Diode、BJT、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT、整流橋、晶閘管等單管功率模塊
適用行業(yè):軍工電子、汽車電子、車軌交通、風(fēng)電光伏、消費電子、半導(dǎo)體設(shè)計、封測企業(yè)...