本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體功率單管和小型模塊進(jìn)行(PCsec & PCmin)間歇壽命試驗(yàn)(IOL)和功率循環(huán)試驗(yàn)(Power Cycling)
產(chǎn)品概述:本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的半導(dǎo)體功率單管和小型模塊進(jìn)行(PCsec & PCmin)間歇壽命試驗(yàn)(IOL)和功率循環(huán)試驗(yàn)(Power Cycling)。
引用標(biāo)準(zhǔn):GJB128、MIL-STD-750、IEC、JEDEC、AEC-Q101、AQG324...
適用器件:Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等單管及小型模塊
適用行業(yè):軍工電子、汽車電子、車軌交通、風(fēng)電光伏、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測(cè)企業(yè)...