本系統(tǒng)適用于各類射頻器件高溫、常溫和低溫下的性能測試,具備S參數(shù)測試、線性度測試、電源測試、噪聲系數(shù)測試、相位噪聲測試、矢量信號測試和射頻時序測試功能。硬件上通過開關(guān)矩陣實現(xiàn)各種儀器、儀表的信號切換,軟件上通過高精度快速測量算法、非理想負載校正算法、動態(tài)范圍擴展算法實現(xiàn)無人員干預(yù)下全自動測試。本系統(tǒng)還具備了測試單元模組化、測試方案集成化和測試流程一體化的特點,以及載具修正、參數(shù)補償、儀表性能擴展等多項技術(shù),可全面提高測試精度和效率。
引用標(biāo)準(zhǔn):SEMI SECS/GEM相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
Standards referenced:SEMI SECS/GEM related.
適用器件:濾波器、放大器、耦合器等射頻器件
Applicable device:Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.
適用行業(yè):軍工電子、汽車電子、車軌交通、消費電子、半導(dǎo)體設(shè)計、封測企業(yè)...
Applicable industry:Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises