本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗(IOL)、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環(huán)試驗(Power Cycling)。
產(chǎn)品概述:本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗(IOL)、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環(huán)試驗(Power Cycling)。
Product overview:The system is designed for Power intermittent life test (IOL), second level (s)/ minute level (min) Power Cycling test of various packaged discrete semiconductor devices.
引用標準:GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...
Standards referenced:GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324.
適用器件:各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模塊
Applicable device:VariousPower module with packaging methodlikeDiode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMTetc.
適用行業(yè):軍工電子、汽車電子、消費電子、軌道交通、半導體器件設計和封測企業(yè) ...
Applicable industry:Military electronics、Automotive electronics、Consumer electronics、rail traffic、Semiconductor device design、Closed test enterprise